株式会社AIRI (旧名:先進知財総合研究所)

特許庁登録調査機関 株式会社AIRI

技術調査サービス

技術調査サービス

1.先行技術調査(出願前調査)
出願前あるいは審査請求前に、新規性や進歩性の要件を満たしているかを判断するための、先行する技術文献を調査

2.無効調査
特許を無効にするための資料を調査

3.侵害調査
権利の有効性、侵害の可能性に関する特許文献等を調査

4.技術動向調査(FTO調査)
新しい開発プロジェクト前に、特定の技術分野でどの企業がどのような研究・出願活動をしているかを調査し、開発プロジェクトの方向性やリスクを評価するための基礎調査

注)上記以外の調査など、ご要望に応じてお見積もりいたします。

調査分野

調査対象分野
・物理:物理量の計測、分析、医療診断、原子力、半導体
・光学:光学装置、受光・発光素子、液晶、光ファイバ
・機械:エンジン、動力機械、農業機械、複写機、印刷機、プリンタ、熱機器、医療機器
・化学:有機化学、高機能材料、水処理、固体廃棄物処理
・バイオ、医療:遺伝子工学、発酵、微生物、医薬、創薬、化粧料、食品
・金属、金属加工:金属の製造または精製、合金製造、鉄の製錬、溶接材料およびその製造、はんだ付等
・電気:自動制御、電池、燃料電池、太陽電池、ナビゲーション、交通制御、半導体、情報通信、ネットワーク、電力変換

使用データベース:PatentSQUARE、Japio-GPGFX、HYPAT-i2、JDreamⅢ、STN、Espacenet SRPARTNER、INPIT高度検索システム、J-PlatPat

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