株式会社AIRI (旧名:先進知財総合研究所)

特許庁登録調査機関 株式会社AIRI

特許・技術調査サービス

弊社の特徴(その)広範な技術に対応

技術分野主な技術内容
物理物理量の計測、分析、医療診断、原子力、半導体
光学光学装置、受光・発光素子、液晶、光ファイバ
機械エンジン、動力機械、農業機械、複写機、印刷機、プリンタ、空調、医療機器
化学有機化学、高機能材料、水処理、固体廃棄物処理
バイオ、医療遺伝子工学、発酵、微生物、医薬、創薬、化粧料、食品
金属・金属加工金属の製造または精製、合金製造、鉄の製錬、溶接材料およびその製造、はんだ付等
電気自動制御、電池、燃料電池、太陽電池、ナビゲーション、交通制御、半導体、情報通信、ネットワーク、電力変換
情報通信、デジタル通信等電子商取引、業務システム、金融・決済、検索装置、言語処理、ソフト開発、ハードウェア、移動体通信、データ伝送、デジタル変調
調査員:約350名

弊社の特徴(その)高品質な調査結果を提供

特許庁OB、弁理士資格を有する知財プロフェショナルと専門技術知識、Doctor資格を有する技術者集団で高品質な調査結果を提供させていただきます。

資格 等人数
特許庁出身者(審査長・審判長経験者)24名
弁理士(資格保有者含む)(知財プロフェショナル)25名
Doctor(博士) (専門技術知識集団)46名

特許・技術調査サービス

1.先行技術調査(出願前調査)

出願前あるいは審査請求前に、新規性や進歩性の要件を満たしているかを判断するための先行技術文献を調査します。
また研究開発段階における、技術テーマの周辺技術・関連特許をリスト形式でご提供いたします。

2.無効資料(又は有効性確認)調査

特許を無効(有効性を確認)にするための調査です。
他社から警告状を受けた場合など、対象特許を潰すための公知文献(無効資料)の有無を確認します。
AIRIでは、専門技術に精通した経験豊富なサーチャーが専門技術毎に対応させていただきます。
なお、論文等の非特許文献の調査も行います。

3.侵害調査(パテントクリアランス調査・FTO(Freedom to operate)調査)

権利の有効性、侵害の可能性に関する特許文献の調査を行います。
製品の製造・販売する際の他者特許の侵害を未然に防ぐことを目的に調査を行います。
新製品の調査はもちろんのこと、納入先からいわゆる「特許保証」を求められた場合も調査させていただきます。

充実したデータベース(調査ツール)を駆使した調査

PatentSQUARE、Japio-GPGFX、HYPAT-i2、JDreamⅢ、STN、Espacenet、SRPARTNER、INPIT高度検索システム、J-PlatPat等、お客様の調査対象国・地域、その目的に合わせて、最適なデータベースを使った調査結果をご提供いたします。
特に近年、特許・技術調査の重要性が増している中国、インド、ブラジル、アセアンなど、各国データが充実しているデータベースを駆使して調査を実施します。

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